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TMS-Pro(單通道)
TMS-D(雙通道)
透過率光譜分析儀
TMS-PRO和TMS-D透過率光譜分析儀能快速準確地測量各類手機及Pad面板的透過率，可用于同一面板多個小孔測量，實時顯示單、多點波長透過率數(shù)據(jù)及指定波段平均透過率數(shù)據(jù)、實時顯示半透波長及透過率。
儀器特點
1. 采用大角度采集全穿透式測量；
2. 可對多孔進行快速測量；
3. 采用數(shù)字視頻對焦，使微小區(qū)域實現(xiàn)精準測量；
4. 實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數(shù)據(jù)及半透波長檢測，自動調整顯示坐標范圍，可對批量樣品進行高效檢測及譜圖對比分析；
5. 可自定義測量方案，設置判定標準，自動判定"OK"和"NG”,使檢測更快速，結果更準確；
6. 高性能探測器，單次測量小于1秒，重復性高；
7. 最小測量孔徑可達φ0.2mm。
應用領域
>> 手機面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測量；
>> 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測量；
>> 太陽膜、濾光片光學元件透光測量。
技術參數(shù)
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