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PDM-1100相位差光譜分析儀
PDM-1100相位差光譜分析儀是主要運用光譜技術(shù)對波片、激光雷達(dá)等光學(xué)元器件的相位差進(jìn)行測量分析的儀器，為光學(xué)元件質(zhì)量把控提供數(shù)據(jù)支撐。該設(shè)備可在0~70度之間自定義測量角度，滿足不同檢測需求。放置好樣品即可開始測試，無需建立材料庫、無需建模、無需對焦，測試速度快，操作便捷。
波片相位差測量
激光雷達(dá)視窗片相位差測量
儀器特點
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相位差測量范圍可選，0-180°或0-360；
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0°固定入射或可變角度(0到70度)測量；
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可測量波片、車載雷達(dá)窗口片等樣品的相位差波長分布情況；
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支持大尺寸樣品測量，最大至200mm；
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無需對焦,無需材料庫，無需建模，測量速度快。
產(chǎn)品參數(shù)
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