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SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實現折射率，吸光率及膜厚的測量。

SpecEI軟件截圖顯示的Psi及Delta值可以用來計算厚度，折射率及吸光率。

波長范圍:

380-780 nm (標準) 或450-900 nm (可選)

光學分辨率:

4.0 nm FWHM

測量精度:

厚度0.1 nm ; 折射率 0.005%

入射角:

70°

膜厚:

單透明膜1-5000 nm

光點尺寸:

2 mm x 4 mm (標準) 或 200 µm x 400 µm (可選)

采樣時間:

3-15s (最小)

動態記錄:

3 seconds

機械公差 (height):

+/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0°

膜層數:

至多32層

參考:

不用